제품소개

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제품소개

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장비명
Split Pea Hemi Micro HATR Sampler
측정방식
Multiple reflection
측정샘플
다양한 고체, 액체, 페이스트 등
특 징
반구형 광학 설계
적용장비
FTIR

Split Pea Hemi Micro HATR Sampler

 

.  ATR 악세사리 중 가장 작은 샘플링 영역 보유

.  반구형 광학 설계

.  섬유, 암석 및 광물, 페인트 조각, 불규칙한 곡면 표면, 매우 단단한 샘플, 마이크로 리터의 액체 또는 페이스트에 이상적

.  재료의 굴절률 (Si의 경우 250µm, 다이아몬드의 경우 500µm)과 동일한 계수로 빔의 집중을 생성

 

기본구성

.  120015-7463 Split Pea HATR with 2 Si hemi top plates, specular reflection sample holder, alignment mirror and calibrated pressure applicator

.  120015-7466 Split Pea HATR with Diamond top plate, specular reflection sample holder, alignment mirror and calibrated pressure applicator

.  120015-7464 Split Pea HATR with 50X View Through Anvil Assembly, Si hemi top plates

 

선택구성

.  120015-7465 Diamond Split Pea with 50X View Through Anvil Assembly