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기기명
Gateway ATR
측정방식
Multi-bounce 45° ZnSe & Ge & Si Crystal
측정샘플
거의 모든 형태의 고체, 액체 샘플 측정 가능
주요사양
. 6 Reflection ATR Crystal, Purge Optics, 최대온도 (~ 200 °C)
. Flat Top-plates (고체, 필름) , Trough Top-plates (액체, pastes)
. 입사각 45도
적용기기
초소형 장비 제외 모든 FT-IR

Gateway ATR (Attenuated Total Reflectance) Accessory

 

. ZnSe, Ge, Si ATR Crystal 사용 가능

. Multi-reflection으로 저농도 샘플, 정량 분석 가능

. Pastes, Gel, 고분자, 파우더, 액체 측정 가능 최대온도 (~ 300° C)

. purge optic, 다양한 플레이트 제공 

 

기본구성

.  15530559 Gateway Complete

 

선택구성

 

 Part Number

  Description

 15GS11165

  Gateway ATR Kit

 

 

Various Top-plates

                

                            

         Flat top-plate                              Trough Top-plate                                 Flow Thru Top-plate   

 

              

  Thermostabilized Top-Plate            Water Heated trough Top-plate               Elec Heated Trough Top-plate

 

Gateway ATR Measurements Data

 

전체 사양

  ZnSe Ge Si
ATR Crystal Active Area ZnSe 45°
70 mm x 10 mm		 Ge 45°
70 mm x 10 mm		 Si 45°
70 mm x 10 mm
Accessory Transmission
Range (cm-1)		 7,800 ~ 550
(AR coated)		 5,500 ~ 600
(AR coated)		 8,333 ~ 33
(non-continuous)
Refractive Index at 1000 cm-1 2.43 4.0 3.42
Depth of Penetration 2.0 µm 0.7 µm 0.9 µm
Typical Light Throughput 20% to 30%
Transmission		 20% to 30%
Transmission		 20% to 30%
Transmission
Dimention
W x D xH (mm)		 160 x 130 x 130 160 x 130 x 130 160 x 130 x 180

 



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